設備：X射線衍射儀D8-Discover

廠商：布魯克

用途：單晶半高寬，峰位，晶向定位分析。

技術(shù)特點：

l  最大適用4英寸單晶測試

l  新一代的Ius 3.0微焦斑光源，性能媲美微焦斑轉(zhuǎn)靶，零維護，壽命超長。

l  液態(tài)金屬靶MetalJET，室neiX射線光源，強度遠遠高于微焦斑轉(zhuǎn)靶。

l  采用四代光源XFEL探測器技術(shù)的PHOTON II CPAD探測器，超大面積，超快速度，零噪音，單光子檢測的靈敏度。

l  雙靶配置，軟件自動切換光源。滿足不同類型的研究需要。元件自動識別，智能化光路管理。

• 上一篇：膜厚及不均勻性
• 下一篇：曲率半徑測試